東莞市維技電子有限公司

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主要技術指標
4個元件測試夾具（被測件尺寸：0.5 mm至20 mm）
獨立選擇2個通道的參數(shù)
直接讀取介電常數(shù)、導磁率（選件）
2個材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度）
多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時間）
掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）
宣傳資料 2006-07-13 |  PDF 697 KB | 訂購拷貝件
描述
Agilent 4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量的完整解決方案。與反射測量技術不同，Agilent 4291B使用直接的電流－電壓測量技術，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結果。

基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于進行低損耗元器件分析。內(nèi)置合成器掃頻范圍從1 MHz到1.8 GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米長的精密電纜可將分析儀連接到測試站，以便您將測試點延伸到分析儀之外，而不會影響測量精度。先進的矩陣和錯誤補償功能消除了夾具的測量錯誤，確保DUT/MUT的高精度和可重復性。

Agilent 4291B還提供自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)視測試信號；可在恒壓或恒流下測量器件。用可選的直流偏置(達40V和100mA)使測量偏置獨立于阻抗特性。只要按一個按鈕，內(nèi)裝的等效電路分析功能就自動計算5種電路模型的電路常數(shù)值。

Agilent 4291B有2個測量通道；每一個通道都可設置為測量1個(即Z)或2個(即Z-theta)阻抗參數(shù)。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存儲器示蹤(保存在RAM中)。內(nèi)部軟盤驅(qū)動器以LIF或MS-DOS格式保存程序和測試數(shù)據(jù)。有了內(nèi)裝IBASIC，您就能從Agilent 4291B直接控制恒溫箱或園片探測器這類外部測試設備，而不需要單獨的儀器控制器。

材料評估

Agilent 4291B能容易地進行全面的材料評估，提高材料評估的質(zhì)量和效率。Agilent 4291B提供寬頻率范圍(1MHz至1GHz)介電/磁性材料測量的總體解決方案。
Basic accuracy of 0.8%
*Internal generator sweeps from 1 MHz to 1.8 GHz with 1 mHz resolution
*Gain-Phase measurements include amplitude, phase, and group delay
*Impedance measurements include |Z|, |Y|, phase, R, X, G, B, Lp, Ls,   Cp, Cs, D, Q, deviation, and deviation %
*DC bias to ±35 V
*GPIB
Basic impedance accuracy is +/- 0.8%. High Q accuracy enables low-loss component analysis. An internal synthesizer sweeps frequency from 1 MHz to 1.8 GHz with 1 mHz resolution. A 1.8-m error-less cable connects the analyzer to a test station so you can extend your test point away from the analyzer without losing accuracy. Advanced calibration and error compensation function eliminate measurement error factors in fixtures and assure high accuracy and repeatability at DUT/MUT.
*Four component test fixtures (DUT size: 0.5 mm to 20 mm)
*Independent parameter selection in 2 channels
*Direct read-out permittivity, permeability (option)
*Two material fixtures (operating temperature: -55deg C to +200deg C)
*Versatile analysis (temperature, cole-cole plot, relaxation time)
*Sweep parameters (frequency, ac level, dc bias, temperature)