儀器簡(jiǎn)介

名稱(chēng)

環(huán)境級(jí)x γ輻射測(cè)量?jī)x

型號(hào)

FJ1200

環(huán)境級(jí)X、γ輻射測(cè)量?jī)x主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準(zhǔn)確快速測(cè)量,儀器采用NaI晶體作為探測(cè)器，具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便，易于操作。環(huán)境級(jí)x γ輻射測(cè)量?jī)x，x γ劑量率測(cè)量?jī)x，xy劑量率檢測(cè)儀

用    途

環(huán)境級(jí)x γ輻射測(cè)量?jī)x，x γ劑量率測(cè)量?jī)x，xy劑量率檢測(cè)儀本儀表可用于環(huán)保部門(mén)檢測(cè)環(huán)境本底情況，人員監(jiān)測(cè)射線醫(yī)療設(shè)備附近本底，無(wú)損檢驗(yàn)(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測(cè)量，農(nóng)業(yè)部門(mén)的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏。適用人群和機(jī)構(gòu)有：環(huán)境監(jiān)測(cè)機(jī)構(gòu)，輻射醫(yī)療設(shè)備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量射線

X、γ射線

探 測(cè) 器

Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體

測(cè)量精度

± 10%（100 µSv/h，137Cs）

能響

 40 keV ~ 1.3 MeV

測(cè)量范圍

0.01 ~ 200µSv/h

單    位

劑量當(dāng)量率 Sv/h

響應(yīng)時(shí)間

< 3 s

抗過(guò)載能力

> 10 Sv/h

工作環(huán)境

溫度：-10℃~ 50℃；相對(duì)濕度：40% ~ 95%（35℃

存儲(chǔ)環(huán)境

溫度：-20℃ ~ 60℃；相對(duì)濕度 40% ~ 95%（35℃

機(jī)械特性

主機(jī)：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm

電器特性

4節(jié)AA1.5V電池

探    頭

Φ 60 × 254 mm（不含手柄）